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- WYJ-4XDIC科研级微分干涉显微镜
科研级微分干涉显微镜WYJ-4XDIC适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X
- 型号：WYJ-4XDIC
- 更新日期：2021-08-15 ￥面议
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- WYJ-52DIC科研级微分干涉显微镜
科研级微分干涉显微镜WYJ-52DIC采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。
- 型号：WYJ-52DIC
- 更新日期：2021-01-27 ￥面议
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